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熒光光譜分析中的X射線光譜分析簡述
發布時間：2018-06-20 17:04:32 點擊：10469
因為不同特征X射線存在于不同元素中，而根據特征譜線的波長，可以判定元素的存在，根據譜線的強度，又可進定量分析。而前者在原子物理學中則被稱之為定性分析法，后者被稱之為定量分析法。
每一種元素都有其特定波長的特征X射線。試樣受X射線照射后,其中各元素原子的內殼層(KL或M層)電子被激發逐出原子而引起電子躍遷,并發射出該元素的特征X射線熒光。元素特征X射線的強度與該元素在試樣中的原子數量(即含量)成比例,因此,通過測量試樣中某元素特征X射線的強度,采用適當的方法進行校準與校正,便可求出該元素在試樣中的百分含量,也就是所謂的定量分析。
X熒光光譜分析分析范圍很廣，可從Be-U,而且對分析試樣的物理狀態不作要求，像固體、粉末、晶體、非晶體都可作為試驗對象。也不受元素的化學狀態的影響。重要的是它屬于物理過程中的非破損性分析，是一種試樣不發生化學變化的無損分析方法。它還可以對均勻試樣進行表面的分析。
X熒光光譜分析被應用于很多領域，比如地質、冶金、礦山、電子機械、石油、化工、航空、航天材料、農業、生態環境、建筑材料、商檢等領域的材料化學成分分析，它的直接分析對象有以下幾種:
1.固體3.稀土
總之，由于X熒光光譜分析因其檢測速度快、小巧、精準、無損等優勢逐漸被眾多企業所接受。
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